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                螺紋量規(guī)公差存在的問題與解決辦法

                發(fā)布時間:2016/8/26 14:25:15
                摘  要:本文簡介了GB/T 3934-2003(審查稿)[2]與ISO 1502及GB/T 3934-1983之間的差異,文獻(xiàn)[1]、[2]都指出螺紋量規(guī)公差存在問題,作者更進(jìn)一步指出螺紋環(huán)規(guī)要求的是單一中徑,而用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn)的是作用中徑,只有分項(xiàng)檢測才能滿足單一中徑的要求。又指出分項(xiàng)檢測不能測量小尺寸螺紋環(huán)規(guī),仍需用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn),而現(xiàn)行的校對螺紋塞規(guī)的公差過大,Tcp遠(yuǎn)大于TR/3。
                      1.問題的提出

                根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 3934-2003(審查稿)[2]的前言,它與ISO 1502的主要差異有兩點(diǎn):1.按GB/T 1.1-2000對編排格式進(jìn)行了修改;2.增加了止端螺紋環(huán)規(guī)的牙型高度。與GB/T 3934-1983的主要變化是:1.修改了標(biāo)準(zhǔn)名稱;2.增加了驗(yàn)收及檢驗(yàn)(2003年版第9條);3.螺紋的判定放入附錄(1983年版第14、15、16條;2003年版的附錄B)。螺紋環(huán)規(guī)與校對螺紋塞規(guī)的螺紋中徑公差帶位置圖如圖1所示;螺紋塞規(guī)的螺紋中徑公差帶位置圖如圖2所示。l螺紋塞規(guī)、螺紋環(huán)規(guī)及其校對螺紋塞規(guī)的螺紋中徑公差值、允許磨損值應(yīng)不大于表1的規(guī)定。

                表1  螺紋量規(guī)螺紋中徑公差值、允許磨損值表            μm

                 Td2、TD2

                TR

                TPL

                TCP

                m

                ZR

                ZPL

                螺紋環(huán)規(guī)

                螺紋塞規(guī)

                 wGO

                 wNG

                 wGO

                 wNG

                 24≤Td2、TD2≤50

                8

                6

                6

                10

                -4

                0

                10

                7

                8

                6

                 50<Td2、TD2≤80

                10

                7

                7

                12

                -2

                2

                12

                9

                9.5

                7.5

                 80<Td2、TD2≤125

                14

                9

                8

                15

                2

                6

                16

                12

                12.5

                9.5

                125<Td2、TD2≤200

                18

                11

                9

                18

                8

                12

                21

                15

                17.5

                11.5

                 200<Td2、TD2≤315

                23

                14

                12

                22

                12

                16

                25.5

                19.5

                21

                15

                 315<Td2、TD2≤500

                30

                18

                15

                27

                20

                24

                33

                25

                27

                19

                 500<Td2、TD2≤670

                8

                22

                18

                33

                28

                32

                41

                31

                33

                23

                注:ZR為負(fù)值表示位于圖1中Td2之外,而代入公式計算不應(yīng)考慮符號。


                        文獻(xiàn)[1]_先指出GB/T 3934-1983螺紋量規(guī)公差存在問題,文獻(xiàn)[2]在其標(biāo)準(zhǔn)編制說明中指出標(biāo)準(zhǔn)不完善,希望在標(biāo)準(zhǔn)在審定過程中得以解決。文獻(xiàn)[1]、[2]都給出表2的數(shù)據(jù)來說明公差的不完善。表2給出螺紋環(huán)規(guī)與校對螺紋塞規(guī)公差帶之間的_小距離。其主要觀點(diǎn)如下:

                表2  螺紋環(huán)規(guī)與校對螺紋塞規(guī)公差帶之間的_小距離表         μm

                TD2、Td2

                m-(TR+TCP)/2

                WGO-(TR/2+TCP)

                WNG-(TR/2+TCP)

                24~50

                3

                0

                -3

                >50~80

                3.5

                0

                -3

                >80~125

                4

                1

                -3

                >125~200

                4.5

                3

                -3

                >200~315

                4.5

                2

                -4

                >315~500

                4.5

                3

                -5

                >500~670

                5

                4

                -6

                1.      T和TT、Z和ZT公差帶中心距離m相同,見圖1。因T和TT是完整牙型 ,且旋合長度較長,而Z是截短牙型,螺紋長度短,因而T和TT旋合時半角誤差和螺距誤差對作用中徑的影響比Z和ZT旋合時的影響大,而用相同的m值作補(bǔ)嘗是不恰當(dāng)?shù)?。并且m的大小也值得探討。

                2.      ZS和ZZ公差帶間的_小距離(WNG-TR/2-TCP)為負(fù)值,表明兩公差帶有部分重疊。這樣將導(dǎo)致ZS中徑小于ZZ中徑,以致產(chǎn)生ZZ能止住的Z環(huán)規(guī),ZS卻不能止住的不合理現(xiàn)象。TS和TZ公差帶間的_小距離(WGO-TR/2-TCP)偏小,可能由于半角誤差和螺距誤差對作用中徑的影響,產(chǎn)生TZ能止住的T環(huán)規(guī),TS卻不能止住的不合理現(xiàn)象。

                也可能產(chǎn)生T環(huán)規(guī)并未顯著磨損,而TS卻能通過。

                3.       實(shí)踐表明用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn)合格的螺紋環(huán)規(guī),其單一中徑不_合格;而單一中徑合格的螺紋環(huán)規(guī)用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn)不_合格。要作到螺紋環(huán)規(guī)的單一中徑與作用中徑同時都合格,一般要進(jìn)行挑選。常常很難在一批用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn)合格的螺紋環(huán)規(guī)中挑選出單一中徑也合格的螺紋環(huán)規(guī)。實(shí)踐也驗(yàn)證了GB/T 3934-1983標(biāo)準(zhǔn)不完善。

                上述事實(shí)表明螺紋環(huán)規(guī)的檢驗(yàn),_進(jìn)行研究和改進(jìn)。

                另外還有一個現(xiàn)象非常值得研究,_是檢驗(yàn)螺紋環(huán)規(guī)時,若用螺紋環(huán)規(guī)同一生產(chǎn)廠的校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn),合格的概率_大得多;而用不同生產(chǎn)廠的校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn),合格的概率_小得多。這是因?yàn)橥簧a(chǎn)廠的螺紋環(huán)規(guī)與校對螺紋塞規(guī)在工藝上考慮了它們半角和螺距的誤差的同一性,本來用于補(bǔ)嘗半角和螺距誤差的m,由于它們半角和螺距的誤差的同一性而擴(kuò)大了螺紋環(huán)規(guī)的中徑公差,使一部分不合格的螺紋環(huán)規(guī)誤判為合格。當(dāng)半角和螺距的誤差的同一性不存在時,這些不合格的環(huán)規(guī)便被暴露出來。本來應(yīng)該將它們剔除出去,卻因文獻(xiàn)[2]中的9.1.2及9.2.2兩條又將它們放回合格的螺紋環(huán)規(guī)中。9.1.2條使本來只適用于工件螺紋合格與不合格的判定的附錄B,擴(kuò)大到螺紋環(huán)規(guī)的檢驗(yàn)。這樣前面第3點(diǎn)的問題_更加突出。要解決螺紋環(huán)規(guī)的檢驗(yàn)問題,還_從根本的出發(fā)點(diǎn)來探討。

                2.問題的實(shí)質(zhì)

                首先要認(rèn)清工件螺紋中徑公差與螺紋環(huán)規(guī)的中徑公差的區(qū)別。前者規(guī)定的是作用中徑的公差,它除了包括中徑公差,還包括有半角和螺距的公差所引入的中徑當(dāng)量公差。而螺紋環(huán)規(guī)的中徑公差_是單一中徑公差,它不是作用中徑公差[3]。因?yàn)槁菁y環(huán)規(guī)還另外有半角公差和螺距公差。在檢驗(yàn)外螺紋制件的作用中徑時,通端螺紋環(huán)規(guī)T是作為體現(xiàn)_實(shí)體牙型的中徑。止端螺紋環(huán)規(guī)Z是用來控制外螺紋制件的實(shí)際中徑。檢驗(yàn)時,應(yīng)不能與工件螺紋旋合,表明工件的實(shí)際中徑不_出螺紋中徑的_小實(shí)體尺寸。由于螺紋環(huán)規(guī)的半角和螺距的誤差的影響也能使止端螺紋環(huán)規(guī)Z不能與工件螺紋旋合,以致造成錯判。為減小這種影響,而將止端螺紋環(huán)規(guī)Z的螺紋減少到2~3圈,并將牙型截短。既是如此也不能_消除這種影響。通端和止端的螺紋塞規(guī)與螺紋環(huán)規(guī)也有相同的功能,而螺紋塞規(guī)卻沒有用校對量規(guī)檢驗(yàn),而是用分項(xiàng)檢驗(yàn)螺紋中徑、半角及螺距。螺紋環(huán)規(guī)卻用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn),而沒有用分項(xiàng)檢驗(yàn)。這是因?yàn)槁菁y環(huán)規(guī)分項(xiàng)檢驗(yàn)較螺紋塞規(guī)分項(xiàng)檢驗(yàn)的難度更大一些,效率更低一些。用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn)螺紋環(huán)規(guī)雖然效率很高,但它是檢驗(yàn)螺紋環(huán)規(guī)的作用中徑,沒有檢驗(yàn)螺紋環(huán)規(guī)的單一中徑,因此它不符合螺紋環(huán)規(guī)檢驗(yàn)的功能要求,它也_無法控制螺紋環(huán)規(guī)的質(zhì)量。因此用分項(xiàng)檢驗(yàn)螺紋環(huán)規(guī)取代用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn)螺紋環(huán)規(guī)才是從根本上解決螺紋環(huán)規(guī)質(zhì)量問題的方法。只要分項(xiàng)測量的擴(kuò)展不確定度(置信系數(shù)k=3)小于或等于被檢螺紋環(huán)規(guī)各參數(shù)公差帶的1/3即可。

                然而分項(xiàng)測量還存在一些問題:1.無論是用掛鉤測量法或用雙球測量頭測量法,都有一個_小被測中徑的_尺寸,小于這個尺寸的環(huán)規(guī)都無法測量。2.由于測量儀器所附測量頭的測球直徑系列不_,不能滿足螺紋環(huán)規(guī)各種規(guī)格的需要,更缺少_尺寸的測頭。3.內(nèi)螺紋的螺距及其牙形角的測量較困難,特別是牙形角的測量更困難。因此分項(xiàng)測量只能解決部分尺寸較大的螺紋環(huán)規(guī)的檢測,另外一部分尺寸較小的螺紋環(huán)規(guī)還只能用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn)。

                3.解決問題的措施

                上面已把問題分析得很清楚了。下面作者提出下列解決措施。

                1.提高校對螺紋塞規(guī)的制造精度,縮小它的制造公差。校對螺紋塞規(guī)

                中徑的制造公差應(yīng)小于螺紋環(huán)規(guī)中徑制造公差的三分之一,即Tcp≤TR/3;校對螺紋塞規(guī)的螺距以及半角的制造公差應(yīng)小于一般螺紋塞規(guī)的一半。這樣_消除了表2中的負(fù)數(shù),也消除了TS和TZ的矛盾。這也符合測量工具的總不確定度應(yīng)小于被測產(chǎn)品制造公差的三分之一的原則。

                2.按_的關(guān)系縮減Z和ZT間的m值,這樣可以防止合格螺釘?shù)闹?/span>

                徑小于公差下限過多,而提高螺釘?shù)臋C(jī)械強(qiáng)度。

                3.將標(biāo)準(zhǔn)GB/T 3934-2003(審查稿)中的9.1.2及9.2.2兩條中關(guān)于

                螺紋環(huán)規(guī)合格的判定應(yīng)改為,凡判定螺紋環(huán)規(guī)為不合格的校對螺紋塞規(guī)均符合本標(biāo)準(zhǔn)要求的,該環(huán)規(guī)應(yīng)判為不合格。而不是原來的“凡判定螺紋環(huán)規(guī)為合格的校對螺紋塞規(guī)均符合本標(biāo)準(zhǔn)要求的,該環(huán)規(guī)應(yīng)判為合格”。這樣可以擴(kuò)大螺釘?shù)闹圃旃睿档吐葆數(shù)闹圃斐杀?,還可以提高螺釘?shù)臋C(jī)械強(qiáng)度。只是這樣要提高環(huán)規(guī)的制造成本,包括容易引起質(zhì)量糾紛,只要出廠前用兩個不同批次的校對螺紋塞規(guī)進(jìn)行檢驗(yàn),_可以減少這種糾紛。對于螺釘合格判定應(yīng)仍按標(biāo)準(zhǔn)原來的闡述。

                4.開發(fā)系列_尺寸球測頭(掛鉤用及雙球測頭)供中徑測量用。

                5.研究內(nèi)螺紋半角測量方法,包括_聲波、CT…等成像技術(shù)用于內(nèi)螺

                紋半角的測量。_模印法的材料和工藝方法以提高螺距和半角的測量精度。

                6.在分項(xiàng)檢驗(yàn)與用校對螺紋塞規(guī)檢驗(yàn)發(fā)生矛盾時,應(yīng)以分項(xiàng)檢驗(yàn)為準(zhǔn)。



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